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光切法显微镜9JS(数码型)

光切法显微镜9JS(数码型)

一、用途

9JS数码光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。适用于测量1.0~80微米即原标准▽3-▽9级表面光洁度。对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。 光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。


二、技术规格

测量范围不平度平均高度值 (um)表面光洁度级别所需物镜总放大倍数

物镜组件

工作距离 (mm)

视场 (mm)

>1.0~1.6

>1.6~6.3

>6.3~20

>20~80

9

8~7

6~5

4~3

60timesN.A.0.55

30timesN.A.0.40

14timesN.A.0.20

7timesN.A.0.12

510times

260 times

120 times

60 times

0.04

0.2

2.5

9.5

0.3

0.6

1.3

2.5

1、摄影装置放大倍数:约6X

2、测量不平度范围 :0.001~0.08mm

3、不平宽度 :用测微目镜: 0.0007~2.5mm;用坐标工作台: 0.01~13mm

4、仪器重量: 约23kg

5、外形尺寸: 约180×290×470mm

6、数码相机系统 :数码相机、90度数码适配镜、转接器

三、仪器成套性:

序 号名称单位数量
1仪器本体1
2测微目镜1
3坐标工作台1
4V 型块1
5标准刻尺(连盒)1
67 倍物镜1
714 倍物镜1
830 倍物镜1
960 倍物镜1
10可调变压器220/4~6/5VA1
112.1瓦6伏灯泡 (备用件)3
12数码相机1
13适配镜(MCL-S90)1
14转接器1
15产品使用说明书1
16产品合格证明1
17产品保修卡1


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上海彼爱姆(BM)光学仪器制造有限公司是继于具有五十年光学仪器制造的企业上海光学仪器厂(上光)。在机制改革成熟和进入WTO适应国际市场开拓发展新概念的基础上,优化组建成BM公司。BM云集了有四十多年从事光学科技研制的老一辈工程技术人员,具有多年来与德、日、俄等国外同行合作开发研制的经验。有雄厚的技术力量,是老“上光”的深化和延续。具有现代科学管理体制的光、机、电、智能化综合型光学仪器制造的专业企业。